Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Trace element analysis by means of synchrotron radiation, XRF, and PIXE; selection of sample preparation procedure / W. M. Kwiatek, B. Kubica, C. PALUSZKIEWICZ, M. Gałka // W: Annual Report 2000 / The Henryk Niewodniczański Institute of Nuclear Physics, Kraków, Poland. — Kraków : Instytut Fizyki Jądrowej, 2000. — ISSN 1425-5763. — S. 66. — Bibliogr. s. 66

Autorzy (4)

Dane bibliometryczne

ID BaDAP39083
Data dodania do BaDAP2008-05-26
Rok publikacji2000
Typ publikacjiraporty, sprawozdania, inne (fragment)
Otwarty dostęptak

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

artykuł
Trace element analysis by means of synchrotron radiation, XRF, and PIXE: selection of sample preparation procedure / W. M. Kwiatek, B. Kubica, C. PALUSZKIEWICZ, M. Gałka // Journal of Alloys and Compounds ; ISSN 0925-8388. — 2001 — vol. 328 iss. 1–2, s. 283–288. — Bibliogr. s. 288, Abstr. — 5th International School and Symposium on Synchrotron Radiation in Natural Science (ISSRNS) : 12–17 June 2000, Poland
Szczegóły
artykuł
Micro-PIXE analysis: importance of biological sample preparation techniques / Dobrosława Budka, J. Mesjasz-Przybyłowicz, W. J. PRZYBYŁOWICZ // Radiation Physics and Chemistry ; ISSN 0969-806X. — 2004 — vol. 71 iss. 3–4, s. 785–786. — Bibliogr. s. 786. — Publikacja dostępna online od: 2004-06-05. — W. J. Przybyłowicz – dod. afiliacja: Materials Research Group, iThemba LABS, South Africa. — ISRP-9 : 9th International Symposium on Radiation Physics : 26–31 October 2003, Cape Town, South Africa
Szczegóły