Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Fuzzy logic and neural networks in machine state classification process — Zbiory rozmyte i sieci neuronowe w procesie klasyfikacji stanu maszyn / Mariusz GIBIEC // W: Diagnostyka 2000 : II Międzynarodowy Kongres Diagnostyki Technicznej : Warsaw, 19–22 September 2000. Vol. 2, Abstracts = Diagnostics 2000 : II International Congress of Technical Diagnostics / Warsaw University of Technology. Faculty of Automobiles and Heavy Machinery Engineering. Institute of Machine Design Fundamentals. — Warszawa : PW, 2000. — Dod. CD-ROM. — ISBN: 83-912190-2-X. — S. 121–122. — Bibliogr. s. 121–122

Autor

Dane bibliometryczne

ID BaDAP3464
Data dodania do BaDAP2001-04-18
Rok publikacji2000
Typ publikacjimateriały konferencyjne (aut.)
Otwarty dostęptak

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

fragment książki
#3467Data dodania: 18.4.2001
Neural networks as a little used diagnostic tool — Sieci neuronowe jako wciąż jeszcze nie w pełni wykorzystane narzędzie diagnostyki / Ryszard TADEUSIEWICZ // W: Diagnostyka 2000 : II Międzynarodowy Kongres Diagnostyki Technicznej : Warsaw, 19–22 September 2000. Vol. 2, Abstracts = Diagnostics 2000 : II International Congress of Technical Diagnostics / Warsaw University of Technology. Faculty of Automobiles and Heavy Machinery Engineering. Institute of Machine Design Fundamentals. — Warszawa : PW, 2000. — Dod. CD-ROM. — ISBN: 83-912190-2-X. — S. 233–234
SzczegółyLink
fragment książki
#3468Data dodania: 18.4.2001
The role of software engineering in monitoring and diagnostics of machinery — Rola oprogramowania w monitorowaniu i diagnostyce stanu maszyn / Tadeusz UHL, Tomasz BARSZCZ, Lucjan MIĘKINA // W: Diagnostyka 2000 : II Międzynarodowy Kongres Diagnostyki Technicznej : Warsaw, 19–22 September 2000. Vol. 2, Abstracts = Diagnostics 2000 : II International Congress of Technical Diagnostics / Warsaw University of Technology. Faculty of Automobiles and Heavy Machinery Engineering. Institute of Machine Design Fundamentals. — Warszawa : PW, 2000. — Dod. CD-ROM. — ISBN: 83-912190-2-X. — S. 245–246. — Pełny tekst W: Diagnostyka 2000 : II Międzynarodowy Kongres Diagnostyki Technicznej = Diagnostics 2000 : II International Congress of Technical Diagnostics : Warsaw, 19–22 September 2000. Vol. 1, Invited papers / Warsaw University of Technology. Faculty of Automobiles and Heavy Machinery Engineering. Institute of Machine Design Fundamentals. — Warszawa : PW, 2000 + CD-ROM. — S. 151–160. — Bibliogr. s. 160
SzczegółyLink