Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Problemy diagnozowania pojazdów szynowych — [Problems of rail-vehicles diagnosing] / Andrzej Chudzikiewicz, Stanisław Radkowski, Tadeusz UHL // W: Diagnostyka 2000 : II Międzynarodowy Kongres Diagnostyki Technicznej : Warsaw, 19–22 September 2000. Vol. 1, Invited papers = Diagnostics 2000 : II International Congress of Technical Diagnostics / Warsaw University of Technology. Faculty of Automobiles and Heavy Machinery Engineering. Institute of Machine Design Fundamentals. — Warszawa : PW + CD-ROM, 2000. — S. 51–57. — Bibliogr. s. 56–57

Autorzy (3)

Dane bibliometryczne

ID BaDAP3402
Data dodania do BaDAP2001-04-18
Rok publikacji2000
Typ publikacjimateriały konferencyjne (aut.)
Otwarty dostęptak

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

fragment książki
#3458Data dodania: 18.4.2001
The application of Barkhausen phenomenon in mechanical construction diagnosis — Zastosowanie zjawiska Barkhausena w diagnostyce konstrukcji mechanicznych / Wojciech BATKO, Tomasz KORBIEL // W: Diagnostyka 2000 : II Międzynarodowy Kongres Diagnostyki Technicznej : Warsaw, 19–22 September 2000. Vol. 2, Abstracts = Diagnostics 2000 : II International Congress of Technical Diagnostics / Warsaw University of Technology. Faculty of Automobiles and Heavy Machinery Engineering. Institute of Machine Design Fundamentals. — Warszawa : PW, 2000. — Dod. CD-ROM. — ISBN: 83-912190-2-X. — S. 39–40
fragment książki
#3457Data dodania: 18.4.2001
Selected applications of modern diagnostic techniques in ALSTOM POWER — Wybrane zastosowania nowoczesnych technik diagnostycznych w ALSTOM POWER / Tomasz BARSZCZ, Tadeusz UHL, Tomasz Rumak // W: Diagnostyka 2000 : II Międzynarodowy Kongres Diagnostyki Technicznej : Warsaw, 19–22 September 2000. Vol. 2, Abstracts = Diagnostics 2000 : II International Congress of Technical Diagnostics / Warsaw University of Technology. Faculty of Automobiles and Heavy Machinery Engineering. Institute of Machine Design Fundamentals. — Warszawa : PW, 2000. — Dod. CD-ROM. — ISBN: 83-912190-2-X. — S. 33–34. — Bibliogr. s. 33–34