Szczegóły publikacji
Opis bibliograficzny
Analiza wieloskalowa procesu SFIL (Step and Flash Imprint Lithography) — Multiscale analysis of the SFIL (Step and Flash Imprint Lithography) process / M. PASZYŃSKI // W: KomPlasTech 2006 : informatyka w technologii metali : materiały XIII konferencji : Szczawnica 15–18 stycznia 2006 / eds.: Danuta Szeliga, Maciej Pietrzyk, Jan Kusiak. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, 2006. — S. 305–312. — Bibliogr. s. 312, Abstr.
Autor
Dane bibliometryczne
| ID BaDAP | 26273 |
|---|---|
| Data dodania do BaDAP | 2006-02-28 |
| Rok publikacji | 2006 |
| Typ publikacji | materiały konferencyjne (aut.) |
| Otwarty dostęp |