Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Analiza wieloskalowa procesu SFIL (Step and Flash Imprint Lithography) — Multiscale analysis of the SFIL (Step and Flash Imprint Lithography) process / M. PASZYŃSKI // W: KomPlasTech 2006 : informatyka w technologii metali : materiały XIII konferencji : Szczawnica 15–18 stycznia 2006 / eds.: Danuta Szeliga, Maciej Pietrzyk, Jan Kusiak. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, 2006. — S. 305–312. — Bibliogr. s. 312, Abstr.

Autor

Dane bibliometryczne

ID BaDAP26273
Data dodania do BaDAP2006-02-28
Rok publikacji2006
Typ publikacjimateriały konferencyjne (aut.)
Otwarty dostęptak

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

fragment książki
#26262Data dodania: 28.2.2006
Modelowanie składu fazy gazowej procesu zawiesinowego wytopu miedzi z wykorzystaniem sztucznych sieci neuronowych — Neural network modelling of exhausts composition of a copper flash smelting process / P. JAROSZ, J. TALAR, T. KONDEK, J. KUSIAK, J. Dobrzański, J. Staszak // W: KomPlasTech 2006 : informatyka w technologii metali : materiały XIII konferencji : Szczawnica 15–18 stycznia 2006 / eds.: Danuta Szeliga, Maciej Pietrzyk, Jan Kusiak. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, 2006. — S. 201–208. — Bibliogr. s. 208, Abstr.
SzczegółyLink
fragment książki
#26223Data dodania: 24.2.2006
Profesor Antoni Piela 1950–2005 : cześć Twojej pamięci! — [Professor Antoni Piela 1950–2005] / Maciej PIETRZYK, Jan KUSIAK // W: KomPlasTech 2006 : informatyka w technologii metali : materiały XIII konferencji : Szczawnica 15–18 stycznia 2006 / eds.: Danuta Szeliga, Maciej Pietrzyk, Jan Kusiak. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, 2006. — S. 1
SzczegółyLink