Szczegóły publikacji
Opis bibliograficzny
Badania modelowe systemów pomiarowych w zastosowaniu do analizy ich właściwości metrologicznych oraz do optymalizacji parametrycznej — [Model testing of measurement systems in application for analysis of their metrological properties and for parametric optimization] / Michał SZYPER // W: Perspektywy i prognozy rozwojowe badań na styku automatyki i metrologii : sympozjum naukowe : Szczecin–Niechorze 15–17 kwietnia 2005 : referaty. — Szczecin : Wydawnictwo Uczelniane Politechniki Szczecińskiej, 2005. — Na okł. dodatkowo: Jubileusz 70-lecia urodzin i 50-lecia pracy zawodowej Profesora Adama Żuchowskiego. — ISBN: 8388764594. — S. 125–133. — Bibliogr. s. 132–133, Streszcz.
Autor
Dane bibliometryczne
| ID BaDAP | 24376 |
|---|---|
| Data dodania do BaDAP | 2005-11-08 |
| Rok publikacji | 2005 |
| Typ publikacji | materiały konferencyjne (aut.) |
| Otwarty dostęp |