Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Microstructure and transport properties of Y-doped zirconia and Gd-doped ceria / G. Petot-Ervas, C. Petot, D. ZIENTARA, J. KUSIŃSKI // Materials Chemistry and Physics ; ISSN 0254-0584. — Tytuł poprz.: Materials Chemistry. — 2003 — vol. 81 iss. 2–3, s. 305–307. — Bibliogr. s. 307, Abstr. — Publikacja dostępna online od: 2003-08-28

Autorzy (4)

Słowa kluczowe

Y-doped zirconiaelectrical conductivitytransmission electron microscopyglassy phasesGd-doped ceria

Dane bibliometryczne

ID BaDAP17146
Data dodania do BaDAP2004-09-02
Tekst źródłowyURL
DOI10.1016/S0254-0584(02)00588-6
Rok publikacji2003
Typ publikacjiartykuł w czasopiśmie
Otwarty dostęptak
Czasopismo/seriaMaterials Chemistry and Physics

Abstract

Transmission electron microscopy (TEM) characterization has allowed us to show the influence of the microstructure on the grain boundary electrical conductivity (sigma(gb)) of Y-doped zirconia (YSZ) and Gd-doped ceria. For the Y2O3 (9 mol%)-doped zirconia samples, agb increases with the grain size and the results depend on the powder elaboration process and sintering conditions. These effects are due to wettability changes of the glassy phases at the grain boundaries. On the contrary, for the Gd2O3 (10 mol%)-doped ceria samples, sigma(gb) decreases when the grain size increases and the results are not influenced by the batch of powder likely due to grain boundaries free of detectable glassy phases.

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

artykuł
#50567Data dodania: 22.2.2010
Microstructure and high temperature transport properties of Ca-doped nickel oxide / Ł. CIENIEK, J. KUSIŃSKI, G. Petot-Ervas, C. Petot // Journal of Microscopy ; ISSN 0022-2720. — 2010 — vol. 237 iss. 3 spec. iss., s. 329–332. — Bibliogr. s. 332, Summ. — Zastosowano procedurę peer review. — EM 2008 : XIII international conference on Electron Microscopy
fragment książki
#25218Data dodania: 28.12.2005
Role of the microstructure on the transport properties of Y-doped zirconia and Gd-doped ceria / Y. Alaoui, A. Benbetka, G. Petot-Ervas, C. Petot, W. Zientara, J. KUSIŃSKI // W: XI International conference on Electron microscopy of solids : Krynica, Poland, 19–23 May 2002 : abstracts / org.: Institute of Metallurgy and Materials Science of Polish Academy of Sciences, Microscopy Section of Committee on Materials Science of Polish Academy of Sciences, Polish Materials Society. — [Poland : PAS], [2002]. — S. 28