Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Six-port reflectometers' uncertainty estimation for different solution models / Kamil STASZEK // W: MRW 2026 [Dokument elektroniczny] : 12th Microwave and Radar Week : MIKON 2026 : IRS 2026 : 18-21 May 2026, Krakow, Poland. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Kraków : AGH ; Warszawa : Fundacja Mikrofal i Radiolokacji ”MIKON”], cop. 2026. — S. 191–195. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://edas.info/showManuscript.php?m=1571252720&ext=pdf&ran... [2026-06-02]. — Bibliogr. s. 194–195, Abstr.

Autor

Słowa kluczowe

linear modelsix-port reflectometermeasurement uncertaintyworst-case analysispower distribution networknon linear model

Dane bibliometryczne

ID BaDAP168076
Data dodania do BaDAP2026-07-03
Rok publikacji2026
Typ publikacjimateriały konferencyjne (aut.)
Otwarty dostęptak
WydawcaAkademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie

Abstract

In this paper, a comprehensive investigation on six-port reflectometers’ measurement uncertainty distribution is presented. For this purpose, five six-port reflectometers based on different power distribution networks are studied. Their uncertainties are determined using four different approaches. They comprise a general model and different solution models, including linear and non-linear ones, also with weighted approach. The obtained results clearly show how the final uncertainty distribution of a reflection coefficient measurement depends on chosen solution method.

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

fragment książki
#168068Data dodania: 3.7.2026
Precise multiprobe reflectometer with a tunable measurement uncertainty distribution / Patryk CELEBAŃSKI, Kamil STASZEK // W: MRW 2026 [Dokument elektroniczny] : 12th Microwave and Radar Week : MIKON 2026 : IRS 2026 : 18-21 May 2026, Krakow, Poland. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Kraków : AGH ; Warszawa : Fundacja Mikrofal i Radiolokacji ”MIKON”], cop. 2026. — S. 11–15. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://s.agh.edu.pl/DAAkQ [2026-06-02]. — Bibliogr. s. 15, Abstr.
artykuł
#91691Data dodania: 6.10.2015
Measurement accuracy enhancement in six-port reflectometers / Kamil STASZEK, Sławomir GRUSZCZYŃSKI, Krzysztof WINCZA // IEEE Microwave and Wireless Components Letters ; ISSN 1531-1309. — 2015 — vol. 25 no. 8, s. 553–555. — Bibliogr. s. 555, Abstr.