Szczegóły publikacji
Opis bibliograficzny
Wafer-level broadband technique for thin films magnetization dynamics characterization / Witold SKOWROŃSKI, Dawid Maślanka, Kacper Gubała, Kamil STASZEK // W: MRW 2026 [Dokument elektroniczny] : 12th Microwave and Radar Week : MIKON 2026 : IRS 2026 : 18-21 May 2026, Krakow, Poland. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Kraków : AGH ; Warszawa : Fundacja Mikrofal i Radiolokacji ”MIKON”], cop. 2026. — S. 69–71. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://edas.info/showManuscript.php?m=1571253984&ext=pdf&ran... [2026-06-02]. — Bibliogr. s. 71, Abstr.
Autorzy (4)
Słowa kluczowe
Dane bibliometryczne
| ID BaDAP | 168069 |
|---|---|
| Data dodania do BaDAP | 2026-07-03 |
| Rok publikacji | 2026 |
| Typ publikacji | materiały konferencyjne (aut.) |
| Otwarty dostęp |  |
| Wydawca | Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie |
Abstract
The design of the broadband magnetization dynamics measurement system for the determination of the magnetic properties of thin-films is presented. The setup is based on a dedicated coplanar-waveguide placed inside the electromagnet, with additional modulation coils. A microwave signal is supplied from a broadband signal generator, while detection is based on a zero-bias Schottky diode connected to the lock-in amplifier. The system is capable of investigating in-plane and perpendicularly magnetized thin films down to a single nanometer in thickness. We demonstrate its feasibility in determining the effective magnetic anisotropy of the thin Co-Ni super-lattice at the wafer level, together with magnetization damping.
