Szczegóły publikacji
Opis bibliograficzny
Analysis of crystal defects by EBSD/TKD in a scanning electron microscope / T. TOKARSKA, K. WÓJCIAK, G. CIOS, A. WINKELMANN, G. Nolze // W: CAC 2025 [Dokument elektroniczny] : XXV Conference on Applied Crystallography : Wisła, Poland, 7-10 September 2025 : abstract book / University of Silesia. Institute of Material Engineering. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Katowice] : US, [2025]. — S. [23-24]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://cac2025.us.edu.pl/wp-content/uploads/2025/09/CAC25_Bo... [2025-09-11]. — Bibliogr. s. [24]
Autorzy (5)
Słowa kluczowe
Dane bibliometryczne
| ID BaDAP | 162337 |
|---|---|
| Data dodania do BaDAP | 2025-09-12 |
| Rok publikacji | 2025 |
| Typ publikacji | materiały konferencyjne (aut.) |
| Otwarty dostęp |  |
| Wydawca | Uniwersytet Śląski w Katowicach |
