Szczegóły publikacji
Opis bibliograficzny
Characterization of a readout integrated circuit with in-pixel time measurement / Łukasz KADŁUBOWSKI, Piotr KMON // W: 25th international workshop on Radiation imaging detectors [Dokument elektroniczny] : 30 June 2024 – 4 July 2024, [Lisboa, Portugal] : book of abstracts. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Portugal : Universidade de Lisboa], [2024]. — S. 138–139. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://indico.cern.ch/event/1284854/book-of-abstracts.pdf [2024-09-23]. — Bibliogr. s. 139
Autorzy (2)
Dane bibliometryczne
| ID BaDAP | 155501 |
|---|---|
| Data dodania do BaDAP | 2024-09-24 |
| Rok publikacji | 2024 |
| Typ publikacji | materiały konferencyjne (aut.) |
| Otwarty dostęp |