Szczegóły publikacji
Opis bibliograficzny
About EBSD at 0-degree tilt and TKD with thick samples at conventional detector geometry / Grzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN, Gert Nolze, Piotr BAŁA, Tomasz TOKARSKI // W: EM'2024 : XVIIIth international conference on Electron Microscopy : 9–12 June 2024, Zakopane, Poland : book of abstracts / eds. Joanna Wojewoda-Budka, [et al.]. — Kraków : Institute of Metallurgy and Materials Science of the Polish Academy of Sciences, 2024. — ISBN: 978-83-60768-98-3. — S. 45. — Bibliogr. s. 45
Autorzy (5)
Słowa kluczowe
Dane bibliometryczne
| ID BaDAP | 154204 |
|---|---|
| Data dodania do BaDAP | 2024-07-05 |
| Rok publikacji | 2024 |
| Typ publikacji | materiały konferencyjne (aut.) |
| Otwarty dostęp |  |
| Wydawca | Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej im. Aleksandra Krupkowskiego Polskiej Akademii Nauk |
