Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Microscopic and spectroscopic investigations of $LaFeO_{3}$ thin films / Christian Turquat, Paul Eyméoud, Alexandre Merlen, Madjid Arab, Christine Leroux, Mateusz JĘDRUSIK, Grzegorz CEMPURA, Łukasz CIENIEK, Agnieszka KOPIA // W: EM'2024 : XVIIIth international conference on Electron Microscopy : 9–12 June 2024, Zakopane, Poland : book of abstracts / eds. Joanna Wojewoda-Budka, [et al.]. — Kraków : Institute of Metallurgy and Materials Science of the Polish Academy of Sciences, 2024. — ISBN: 978-83-60768-98-3. — S. 35. — Bibliogr. s. 35. — M. Jędrusik – dod. afiliacja: University of Toulon-AMU/IM2NP, France

Autorzy (9)

Torquat Christian
Eyméoud Paul
Merlen Alexandre
Arab Madjid
Leroux Christine
AGHJędrusik Mateusz
AGHCempura Grzegorz
AGHCieniek Łukasz
AGHKopia Agnieszka

Słowa kluczowe

thin films PLD pulsed laser deposition gas sensor LaFeO3

Dane bibliometryczne

ID BaDAP	154195
Data dodania do BaDAP	2024-07-05
Rok publikacji	2024
Typ publikacji	materiały konferencyjne (aut.)
Otwarty dostęp
Wydawca	Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej im. Aleksandra Krupkowskiego Polskiej Akademii Nauk

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

fragment książki

#147898Data dodania: 3.8.2023

Influence of the applied substrate on the surface topography and selected properties of functional $LaFeO_{3}$ thin films produced by the PLD technique / Łukasz CIENIEK, Agnieszka KOPIA, Kazimierz KOWALSKI, Andrzej SIKORA, Sébastien Saitzek, Jean-François Blach // W: AMT'2023 : Advanced Materials and Technologies : June 18th – 21st 2023, Wisła, Poland : book of abstracts / eds. Adam Skowronek, Aleksandra Kozłowska. — Katowice - Gliwice : Archives of Foundry Engineering, cop. 2023. — ISBN: 978-83-63605-57-5. — S. 54

Szczegóły

artykuł

#30944Data dodania: 15.1.2007

Structural analyses of $Nd-doped$ $CeO_{2}$ thin films deposited by pulsed laser deposition / A. KOPIA, M. CHMIELOWSKA, Ch. Leroux, J. P. Dallas, J. R. Gavarri, J. KUSIŃSKI // Journal of Microscopy ; ISSN 0022-2720 . — 2006 — vol. 224 pt. 1, s. 49–51. — Bibliogr. s. 51, Summ.

Szczegóły