Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Deep machine learning in bridge structures durability analysis / Karolina TOMASZKIEWICZ, Tomasz OWERKO // W: JISDM 2022 : 5th Joint International Symposium on Deformation Monitoring : 20-22 June 2022, Valencia, Spain : guide / eds. Luis García-Asenjo, José Luis Lerma. — [Valencia : Universitat Politecnica], 2022. — ISBN: 978-84-9048-979-6. — S. 136. — Pełny tekst w: http://ocs.editorial.upv.es/index.php/JISDM/JISDM2022/paper/viewFile/16057/7668 [2023-02-02]. --- S. 405--411. --- Bibliogr. s. 411, Abstr.

Autorzy (2)

Słowa kluczowe

transfer learningdeep machine learningconcrete cracksbridge structuredurability

Dane bibliometryczne

ID BaDAP140884
Data dodania do BaDAP2022-07-04
Rok publikacji2022
Typ publikacjimateriały konferencyjne (aut.)
Otwarty dostęptak
Creative Commons

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

fragment książki
#140883Data dodania: 4.7.2022
Low-cost GNSS RTK receiver in structure monitoring under demanding conditions / Przemysław KURAS, Daniel JANOS, Łukasz ORTYL // W: JISDM 2022 : 5th Joint International Symposium on Deformation Monitoring : 20-22 June 2022, Valencia, Spain : guide / eds. Luis García-Asenjo, José Luis Lerma. — [Valencia : Universitat Politecnica], 2022. — ISBN: 978-84-9048-979-6. — S. 104. — Pełny tekst w: http://ocs.editorial.upv.es/index.php/JISDM/JISDM2022/paper/viewFile/16057/7668 [2023-02-02]. --- S. 659--664. --- Bibliogr. s. 664, Abstr.
fragment książki
#140882Data dodania: 4.7.2022
Concept for the integration of BIM and GIS data for monitoring land deformation around an ongoing infrastructure project / Szymon GLINKA, Tomasz OWERKO // W: JISDM 2022 : 5th Joint International Symposium on Deformation Monitoring : 20-22 June 2022, Valencia, Spain : guide / eds. Luis García-Asenjo, José Luis Lerma. — [Valencia : Universitat Politecnica], 2022. — ISBN: 978-84-9048-979-6. — S. 86. — Pełny tekst w: http://ocs.editorial.upv.es/index.php/JISDM/JISDM2022/paper/viewFile/16057/7668 [2023-02-02]. --- S. 585--589. --- Bibliogr. s. 589, Abstr.