Szczegóły publikacji
Opis bibliograficzny
Investigation of EBSD post-processing techniques for aluminium-nitride thin films grown on nano-patterned sapphire : [abstract] / R. McDermott, [et al.], A. WINKELMANN // W: EBSD 2021 [Dokument elektroniczny] : virtual Electron Backscatter Diffraction meeting 2021 : online, 20–21 April 2021. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Oxford : Royal Microscopical Society], [2021]. — S. [31–32]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://www.rms.org.uk/rms-event-calendar/2021-events/ebsd-20... [2021-11-25]. — Bibliogr. s. [31–32]. — Dostęp po zalogowaniu
Autorzy (13)
- McDermott Ryan
- AGHWinkelmann Aimo
Dane bibliometryczne
| ID BaDAP | 137775 |
|---|---|
| Data dodania do BaDAP | 2021-11-30 |
| Rok publikacji | 2021 |
| Typ publikacji | materiały konferencyjne (aut.) |
| Otwarty dostęp |  |
