Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Methods for quasicrystals analysis using EBSD / Grzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN, Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Piotr BAŁA // W: EM'2020 [Dokument elektroniczny] : XVII international conference on Electron Microscopy : November 30th - December 2nd 2020, Katowice, Poland : book of abstracts / Silesian University of Technology, Institute of Metallurgy and Materials Science. Polish Academy of Sciences, PTMi. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Poland : Silesian University of Technology], [2020]. — 1 dysk optyczny. — S. 48. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — A. Winkelmann - dod. afiliacja: University of Strathclyde, Glasgow, P. Bała - dod. afiliacja: Faculty of Metals and Industrial Computer Science, AGH University of Science and Technology

Autorzy (5)

Słowa kluczowe

quasi crystalsdynamical simulationapproximantsEBSD

Dane bibliometryczne

ID BaDAP136344
Data dodania do BaDAP2021-10-05
Rok publikacji2020
Typ publikacjimateriały konferencyjne (aut.)
Otwarty dostęptak
WydawcaPolitechnika Śląska

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

fragment książki
#136340Data dodania: 5.10.2021
Detwinning modes of face-centered cubic deformation twins: EBSD study / Maciej Szczerba, Sebastian KOPACZ, Sebastian Sumara, Marek Faryna, Marek SZCZERBA // W: EM'2020 [Dokument elektroniczny] : XVII international conference on Electron Microscopy : November 30th - December 2nd 2020, Katowice, Poland : book of abstracts / Silesian University of Technology, Institute of Metallurgy and Materials Science. Polish Academy of Sciences, PTMi. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Poland : Silesian University of Technology], [2020]. — 1 dysk optyczny. — S. 40. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM
fragment książki
#136351Data dodania: 5.10.2021
EBSD study of deformation microstructure of FCC single crystals with different stacking fault energy subjected to wire drawing process / Tomasz TOKARSKI, Grzegorz CIOS, Dorota Moszczyńska, Jarosław Mizera // W: EM'2020 [Dokument elektroniczny] : XVII international conference on Electron Microscopy : November 30th - December 2nd 2020, Katowice, Poland : book of abstracts / Silesian University of Technology, Institute of Metallurgy and Materials Science. Polish Academy of Sciences, PTMi. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Poland : Silesian University of Technology], [2020]. — 1 dysk optyczny. — S. 69. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM