Szczegóły publikacji
Opis bibliograficzny
Advanced electron microscopy for aeronautics and energy systems : qualitative and quantitative approach / Grzegorz CEMPURA, Adam KRUK // W: EM'2020 [Dokument elektroniczny] : XVII international conference on Electron Microscopy : November 30th - December 2nd 2020, Katowice, Poland : book of abstracts / Silesian University of Technology, Institute of Metallurgy and Materials Science. Polish Academy of Sciences, PTMi. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Poland : Silesian University of Technology], [2020]. — 1 dysk optyczny. — S. 31. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM
Autorzy (2)
Słowa kluczowe
Dane bibliometryczne
| ID BaDAP | 136335 |
|---|---|
| Data dodania do BaDAP | 2021-10-05 |
| Rok publikacji | 2020 |
| Typ publikacji | materiały konferencyjne (aut.) |
| Otwarty dostęp |  |
| Wydawca | Politechnika Śląska |
