Szczegóły publikacji
Opis bibliograficzny
Pomiar krótkich odcinków czasu z wykorzystaniem przetwornika czas-cyfra w architekturze Verniera z oscylatorami pierścieniowymi w technologii CMOS 28 nm — Time of arrival measurement using ring oscillator-based Vernier time-to-digital converter in 28 nm CMOS / Łukasz A. KADŁUBOWSKI, Piotr KMON // Przegląd Elektrotechniczny / Stowarzyszenie Elektryków Polskich ; ISSN 0033-2097. — 2020 — R. 96 nr 12, s. 115–118. — Bibliogr. s. 118, Streszcz., Abstr.
Autorzy (2)
Słowa kluczowe
Dane bibliometryczne
| ID BaDAP | 131272 |
|---|---|
| Data dodania do BaDAP | 2020-12-05 |
| Tekst źródłowy | URL |
| DOI | 10.15199/48.2020.12.2 |
| Rok publikacji | 2020 |
| Typ publikacji | artykuł w czasopiśmie |
| Otwarty dostęp |  |
| Creative Commons | |
| Czasopismo/seria | Przegląd Elektrotechniczny |
Streszczenie
Artykuł opisuje projekt systemu do pomiaru krótkich odcinków czasu dla układów o architekturze pikselowej, wykorzystujący przetwornik czas-cyfra w architekturze Verniera z oscylatorami pierścieniowymi. Omówione są również projekt oscylatora i wyniki symulacji postekstrakcyjnych. Docelową implementacją opracowywanego rozwiązania będą scalone układy elektroniki odczytu do pikselowych detektorów promieniowania X, których jedną z funkcji będzie pomiar czasu uderzenia cząstki w detektor i dodatkowo pomiar zdeponowanej energii.
Abstract
The paper describes the design of a system dedicated for a measurement of short time intervals in pixellated circuits. Ring oscillatorbased Vernier time-to-digital converter architecture is used. The design of ring oscillator is discussed, and post-extraction simulation results are also presented. The project goal is to implement the solution in integrated readout integrated circuits for pixel X-ray detectors that offer time of arrival and time over threshold measurement functionalities.
