Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

SPC methods application in measurement system stability and BIAS study — Zastosowanie metod statystycznej kontroli procesów w badaniu stabilności i dokładności systemu pomiarowego / Kamil SZEMIK, Paweł BOGACZ, Marcin MIGZA // W: Od tradycji do współczesności : współczesne kontynuacje dorobku Karola Adamieckiego / red. nauk. Anna Kosieradzka, Danuta Rojek. — Warszawa : Wydział Zarządzania. Politechnika Warszawska, 2018. — Konferencja pod takim samym tytułem odbyła się 16-17.03.2017 w siedzibie WSB w Dąbrowie Górniczej. — ISBN: 978-83-63370-08-4. — S. 102–114. — Bibliogr. s. 114, Abstr., Streszcz.

Autorzy (3)

Słowa kluczowe

EN: metrologySPCBIASMSAstatistics
PL: BIASdokładność pomiarustatystykametrologiaMSAanaliza systemu pomiarowegoSPCstatystyczna kontrola procesu

Dane bibliometryczne

ID BaDAP113205
Data dodania do BaDAP2018-04-11
Rok publikacji2018
Typ publikacjifragment monografii pokonferencyjnej
Otwarty dostęptak
WydawcaPolitechnika Warszawska

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

fragment książki
#113203Data dodania: 11.4.2018
Clusters in Polish health resorts sector — Klastry w polskim sektorze uzdrowiskowym / Agnieszka KABALSKA // W: Od tradycji do współczesności : współczesne kontynuacje dorobku Karola Adamieckiego / red. nauk. Anna Kosieradzka, Danuta Rojek. — Warszawa : Wydział Zarządzania. Politechnika Warszawska, 2018. — Konferencja pod takim samym tytułem odbyła się 16-17.03.2017 w siedzibie WSB w Dąbrowie Górniczej. — ISBN: 978-83-63370-08-4. — S. 60–74. — Bibliogr. s. 71–74, Abstr., Streszcz.
fragment książki
#113206Data dodania: 11.4.2018
Doradcy organizacyjni - polscy pionierzy konsultingu — Organizing advisers - Polish consulting pioneers / Piotr GÓRSKI // W: Od tradycji do współczesności : współczesne kontynuacje dorobku Karola Adamieckiego / red. nauk. Anna Kosieradzka, Danuta Rojek. — Warszawa : Wydział Zarządzania. Politechnika Warszawska, 2018. — Konferencja pod takim samym tytułem odbyła się 16-17.03.2017 w siedzibie WSB w Dąbrowie Górniczej. — ISBN: 978-83-63370-08-4. — S. 169–180. — Bibliogr. s. 179–180, Streszcz., Abstr.