Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Sposób i urządzenie do porównania i pomiaru parametrów figur płaskich, zwłaszcza arkuszy blachy — [Method and device for evaluating geometric parameters of flat structures] / Biuro Techniczno-Handlowe BTH Import Stal spółka z ograniczoną odpowiedzialnością, Kraków ; wynalazca: Jerzy KWAŚNIEWSKI, Józef Grzybowski. — Int.Cl.: G01B 11/00(2006.01). — Polska. — Opis patentowy ; PL227161B1 ; Udziel. 2017-05-22 ; Opubl. 2017-11-30. — Zgłosz. nr P.400468 z dn. 2012-08-22

Autorzy (2)

  • Kwaśniewski Jerzy Władysław
  • Grzybowski Józef

Słowa kluczowe

EN: flat products
PL: wyroby płaskie

Dane bibliometryczne

ID BaDAP111405
Data dodania do BaDAP2018-01-05
Tekst źródłowyURL
Rok publikacji2017
Typ publikacjipatent
Otwarty dostęptak

Streszczenie

Sposób oceny parametrów geometrycznych struktur płaskich charakteryzuje się tym, że ustala się położenie punktów krańcowych mierzonego arkusza (1) w oparciu o odczyt z niezależnych czujników (3A, 3B, 3C, 3D), których liczba odpowiada ilości punktów krańcowych, przy czym w pierwszej fazie pomiaru jeden z czujników (3A) określa położenie pierwszego punktu krańcowego („A”) mierzonego arkusza (1) w ten sposób, że jego płaszczyzna pomiarowa ustawiona jest równolegle do mierzonego arkusza (1), a jej punkt centralny oraz punkt krańcowy „A” mierzonego arkusza (1) leżą w jednej linii prostopadłej do płaszczyzny pomiarowej oraz do mierzonego arkusza (1). Punkt centralny płaszczyzny pomiarowej pierwszego czujnika (3A) staje się punktem odniesienia dla dalszego pomiaru, następnie w oparciu o sygnał wyjściowy z pierwszego czujnika (3A) pozostałe czujniki (3B, 3C, 3D) rozmieszczane są według założonych wymiarów nominalnych wzorca „X” w położeniu, w którym powinny znajdować się pozostałe punkty krańcowe mierzonego arkusza (1), następnie dokonywane jest w elektronicznym układzie logicznym (8) ustalenie pozycji pozostałych naroży mierzonego arkusza (1) względem punktów zerowych pozostałych czujników (3B, 3C, 3D). W ostatniej fazie pomiaru układ logiczny (8) porównuje rzeczywisty kształt arkusza „Y”, ustalony w oparciu o sygnał wynikowy z czujników (3A, 3B, 3C, 3D) z założonym wzorcem „X”. Urządzenie do oceny parametrów geometrycznych struktur płaskich jest wyposażone w prostokątną ramę z umocowanymi do niej przesuwnie czujnikami (3A, 3B, 3C, 3D), zaopatrzonymi w płaszczyzny pomiarowe o regularnych kształtach z wyznaczonymi w środku punktami zerowymi, układ logiczny (8), mechanizmy napędowe (4), przyłączone do poszczególnych czujników (3A, 3B, 3C, 3D), a także impulsator liniowy (10) sprzężony z rolkami przenośnika linii produkcyjnej oraz jednym z czujników (3A).

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

dokument patentowy
#80498Data dodania: 20.3.2014
Sposób i urządzenie do oceny parametrów geometrycznych struktur płaskich — [Method and device for evaluating geometric parameters of flat structures] / Kotarba Alicja Biuro Techniczno-Handlowe BTH Import Stal, Kraków ; wynalazca: KWAŚNIEWSKI Jerzy, Grzybowski Józef. — Int.Cl.: G01B 11/00(2006.01). — Polska. — Opis zgłoszeniowy wynalazku ; PL400468A1 ; Opubl. 2014-03-03. — Zgłosz. nr P.400468 z dn. 2012-08-22 // Biuletyn Urzędu Patentowego. — 2014 — nr 5, s. 44
dokument patentowy
#77698Data dodania: 15.11.2013
Sposób wytwarzania drobnokrystalicznych metalowych wyrobów płaskich, zwłaszcza taśm — [Method of manufacturing finecrystalline flat metalic products, especially tapes] / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie ; wynalazca: Włodzimierz BOCHNIAK, Paweł OSTACHOWSKI. — Int.Cl.: B23P 17/00(2006.01). — Polska. — Opis patentowy ; PL215050B1 ; Udziel. 2013-02-14 ; Opubl. 2013-10-31. — Zgłosz. nr P.389319 z dn. 2009-10-20