Szczegóły publikacji

Opis bibliograficzny

Analytical electron microscopy studies of the CMSX-4 single crystal superalloy subjected to high temperature annealing / B. DUBIEL. P. Indyka, I. KALEMBA-REC, A. KRUK, T. Moskalewicz // W: Abstract book of 11th Polish-Japanese joint seminar on Micro and nano analysis : 11–14 September 2016, Gniew, Poland / PAN, PTMi, Kyushu University. — [Poland : s. n.], [2016]. — S. 61. — Bibliogr. s. 61

Autorzy (5)

Słowa kluczowe

electron tomographyEDSSTEMCMSX-4

Dane bibliometryczne

ID BaDAP100756
Data dodania do BaDAP2016-09-29
Rok publikacji2016
Typ publikacjimateriały konferencyjne (aut.)
Otwarty dostęptak

Publikacje, które mogą Cię zainteresować

fragment książki
#142832Data dodania: 12.10.2022
Analytical electron microscopy studies of precipitates in Inconel 625 additively manufactured by L-PBF technology and subjected to high-temperature annealing / B. DUBIEL, M. Zubko, P. Indyka, M. GAJEWSKA, K. GOLA, S. STAROŃ, H. PASIOWIEC // W: 13th Polish-Japanese joint seminar on Micro and nano analysis : [25–28 September 2022, Ustroń] : abstract book. — [Katowice : University of Silesia], [2022]. — S. 81–82. — Bibliogr. s. 82
SzczegółyLink
fragment książki
#92844Data dodania: 29.9.2015
Analytical electron microscopy investigation of topologically close-packed phases in CMSX-4 single crystal superalloy / B. DUBIEL, I. KALEMBA-REC, P. Indyka, T. MOSKALEWICZ // W: XXIII CAC 2015 : Conference on Applied Crystallography : 20–24 September 2015, Krynica-Zdrój, Poland : programme & abstracts. — [Krynica-Zdrój : s. n.], [2015]. — S. 65–66. — Bibliogr. s. 66
SzczegółyLink