Czapla Adam, dr inż.

Lider: Zakrzewska Katarzyna

Zespół zajmuje się technologią i pomiarami właściwości cienkich warstw półprzewodników przede wszystkim tlenków metali dla zastosowań w elektronice. Dominującą technologią jest rozpylanie jonowe - sputtering. Badania obejmują charakteryzację uzyskanych materiałów, pomiary optyczne, dyfrakcję promieniowania X, pomiary odpowiedzi rezystancyjnej w funkcji temperatury i koncentracji gazu, spektroskopię impedancyjną i wiele innych.