- Strona główna/
- Lista autorów/
- Kruk Adam/
- Habilitacja
Kruk Adam, prof. dr hab. inż.
WIMiIP-kmm Katedra Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków
Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
inżynieria materiałowa
kruczek@agh.edu.pl100
0
- Habilitacja
- Tomografia elektronowa i jej zastosowanie w obrazowaniu i metrologii mikrostruktury materiałów
- Wersja tytułu:
- Electron tomography and its application in imaging and metrology of the microstructure of materials
- Sygn.:
- II 251596 ; II 251597
- Wydział:
- AGH Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
- Data uchwały Rady Wydziału:
- 16.09.2013
- Stopień naukowy:
- dr hab. nauk technicznych
- Dyscyplina:
- inżynieria materiałowa
- Publikacja:
- Słowa kluczowe:
- tomografia elektronowa; mikroskop elektronowy transmisyjny; mikroskop skaningowy elektronowy; rekonstrukcja tomograficzna; wizualizacja 3D; tomografia FIB-SEM